标准编号：SJ/T 11210-1999，标准状态：现行。 本标准规定了颇率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC 122一1修改1中定义的负载谐振颇率偏置，频率牵引范围△几:、和牵引灵敏度So
| 英文名称： | Measurement of quartz crystal unit parameters Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fl, load resonance resistance Rl and the calculation of other derived v |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件 |
| 采标情况： | IEC 444-4-1998 IDT |
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： | 1999-08-26 |
| 实施日期： | 1999-12-01 |
| 归口单位： | 电子工业部标准化研究所 |
| 起草单位： | 国营北京晨星无线电器材厂 |
| 起草人： | 章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林 |
| 页数： | 15页 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1999-12-01 |
| 标准前页： |
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