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SJ/T 11207-1999 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法 电子
2012-07-03   发表:

标准编号:SJ/T 11207-1999,标准状态:现行。

英文名称: Measurement of magnetic properties of YIG single crystal magnetic-films
中标分类: 电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
发布日期: 1999-08-26
实施日期: 1999-12-01
页数: 13页
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