标准编号：SJ/T 11206-1999，标准状态：现行。
| 英文名称： | Measurement method of double-aperture and multi-aperture cores made of magnetic oxides |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>电子元件>>L19磁性元器件 |
| 发布日期： | 1999-08-26 |
| 实施日期： | 1999-12-01 |
| 页数： | 6页 |
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