标准编号：SJ/T 11490-2015 ，标准状态：即将实施。SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法 电子行业标准(SJ)详细内容。 本标准规定了低位错密度砷化镓（GaAs）抛光片腐蚀坑密度（EPD）的测量方法。
| 标准状态： | 即将实施 |
| 发布部门： | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2015-04-30 |
| 实施日期： | 2015-10-01 |
| 出版社： | 工业和信息化部电子工业标准化研究院组织出版 |
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