标准编号：SJ 20719-1998，标准状态：现行。 本规范规定了用X-射线荧光法测定碲镉汞晶片的组分X值。本规范适用于X值在0.100~0.350mol范围内的碲镉汞晶片组分X值定量测定。
| 英文名称： | Method of determination X value for mercury cadmium telluride for use in X-ray fluorimetry |
| 中标分类： | >>>>L5971 |
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： | 1998-03-18 |
| 实施日期： | 1998-05-01 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 李兆瑞、刘筠 |
| 页数： | 5页 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1998-04-01 |
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