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SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法 电子行业标准(SJ)
2012-07-01   发表:

标准编号:SJ 20788-2000,标准状态:现行。 本标准规定了半导体二极管的稳态热阻和瞬态热阻抗的测试方法。

本标准适用于整流二极管、瞬态电压抑制二极管、功率齐纳二极管和某些齐纳、信号和开关二极管稳态热阻抗的测试。

英文名称: Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes
中标分类: >>>>L5961
发布部门: 中华人民共和国信息产业部
发布日期: 2000-10-20
实施日期: 2000-10-20
归口单位: 中国电子技术标准化研究所
起草单位: 中国电子技术标准化研究所
起草人: 王长福、顾振球、易本健
页数: 14页
出版社: 工业电子出版社
出版日期: 2000-10-20
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GB 128A-1997 半导体分立器件试验方法

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