标准编号：SJ 20785-2000，标准状态：现行。 本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。
本标准适用于超辐射发光二极管组件（以下简称“组件”）光电参数测试。
| 英文名称： | Measuring methods for super luminescent diode module |
| 中标分类： | >>>>L5980 |
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： | 2000-10-20 |
| 实施日期： | 2000-10-20 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 电子工业部第44研究所 |
| 起草人： | 魏进、易向阳、常利发、李春芳 |
| 页数： | 28页 |
| 出版社： | 工业电子出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-19 |
| 标准前页： | 浏览标准前文 || 下载标准前页 |
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