标准编号：SJ/T 11399-2009，标准状态：现行。 主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
| 英文名称： | Measurement methods for chips of light emitting diodes |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L45微波、毫米波二、三极管 |
| ICS分类： | 电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
| 发布部门： | 工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2009-11-17 |
| 实施日期： | 2010-01-01 |
| 归口单位： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 主管部门： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司 |
| 起草人： | 鲍超、胡爱华、牟同升、李明远、彭万华 |
| 页数： | 11页 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 2010-01-01 |
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