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GBT14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
日期: 2010-10-02 整理: 标准下载库
资料类型：国家标准
授权方式：会员免费下载
资料语言：简体中文
下载次数：65
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内容简介：GBT14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
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