标准编号：SJ 2354.11-1983，标准状态：现行。
| 英文名称： | Method of measurement for width of blind zone of PIN and avalanche photodiode matrix |
| 中标分类： | 能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理 |
| ICS分类： | 电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
| 发布日期： | 1983-08-15 |
| 实施日期： | 1984-07-01 |
| 页数： | 2页 |
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