首页 > 标准百科
GB 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法 国家标准(G
2012-08-19   发表:

标准编号:GB 4298-1984,标准状态:现行。 本标准适用于单晶硅、多晶硅中金属杂质素和非金属杂质素含量的测定。本标准包括杂质素(十六个)的反应堆中子活化仪器分析方法、铜和砷的反应堆中子活化放射化分离分析方法、磷的反应堆中子活化放射化分离分析方法、氧的α粒子活化仪器分析方法和碳的氘子活化仪器分析方法。

英文名称: The activation analysis method for the determination of elemental impurities in semiconductor silicon materials
中标分类: 冶金>>金属化学分析方法>>H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类: 29.040.30
UDC分类: 669.782;543.06;621.315.592
发布部门: 国家标准局
发布日期: 1984-03-28
实施日期: 1985-03-01
首发日期: 1984-03-28
复审日期: 2004-10-14
提出单位: 有色金属总公司
归口单位: 中国有色金属工业协会
主管部门: 中国有色金属工业协会
起草单位: 有色金属研究总院
起草人: 周云鹿、章家鼎
页数: 18页
出版社: 中国标准出版社
出版日期: 1985-03-01
标准前页: 浏览标准前文 || 下载标准前页

请到 http://www.bzxzk.net/search/ 搜索下载标准下载库的标准

0条评论

昵称:

密码:

匿名发表

验证码: