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GB 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率
2012-08-19   发表:

标准编号:GB 5594.5-1985,标准状态:现行。 本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500°C范围体积电阻率的测定。

英文名称: Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for volume resistivity
中标分类: >>>>L32
ICS分类: 31.030
发布部门: 信息产业部(电子)
发布日期: 1985-01-01
实施日期: 1986-01-02
首发日期: 1985-11-27
复审日期: 2004-10-14
提出单位: 中华人民共和国电子工业部
归口单位: 信息产业部(电子)
主管部门: 信息产业部(电子)
起草单位: 南京电子管厂
起草人: 王明珍、赵小伟
页数: 3页
出版社: 中国标准出版社
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