标准编号：SJ 2757-1987，标准状态：现行。
| 英文名称： | Method of measurement by infra-red reflection for charge carrier concentraiton of heavily doped semiconductors |
| 中标分类： | 综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理 |
| 发布日期： | 1987-02-10 |
| 实施日期： | 1987-07-01 |
| 页数： | 6页 |
请到 http://www.bzxzk.net/search/ 搜索下载标准下载库的标准
0条评论