标准编号：GB/T 4377-1996，标准状态：现行。 本标准规定了半导体集成电路电压调整器电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试，不适用于双端（单端口）器件。
| 英文名称： | Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods of voltage regulator |
| 替代情况： | GB 4377-1984 |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 |
| ICS分类： | 电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1996-07-09 |
| 实施日期： | 1997-01-01 |
| 首发日期： | 1984-05-13 |
| 复审日期： | 2004-10-14 |
| 提出单位： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 全国集成电路标委会模拟分会 |
| 起草人： | 张宝华、李龙文、沈琪 |
| 页数： | 平装16开， 页数：17， 字数：37千字 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1997-01-01 |
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