标准编号：GB/T 1550-1997，标准状态：现行。 本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测定方法。本标准适用于非本征半导体材料导电类型的测定，其中较详细地规定了锗和硅导电类型的测试方法。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定。
| 英文名称： | STANDARD methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials |
| 替代情况： | GB 1550-1979 GB 5256-1985 |
| 中标分类： | 冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法 |
| ICS分类： | 冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合 |
| 采标情况： | ＝ASTM F42-88 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1997-06-03 |
| 实施日期： | 1997-01-02 |
| 首发日期： | 1979-05-26 |
| 复审日期： | 2004-10-14 |
| 归口单位： | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： | 峨嵋半导体材料厂 |
| 页数： | 平装16开， 页数：11， 字数：16千字 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 书号： | 155066.1-14168 |
| 出版日期： | 2004-04-01 |
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