标准编号：SY/T 6414-1999，标准状态：现行。 本标准规定了在偏反光显微镜下，用反射白光和反射荧光测定全岩光片显微组分体积分数的方法。
本标准适用于暗色泥岩、碳酸盐岩和煤光片显微组分的测定。
| 英文名称： | Maceral analysis on polished surfaces of whole rocks |
| 中标分类： | 石油>>石油勘探、开发与集输>>E11石油地质勘探 |
| ICS分类： | 石油及相关技术>>75.020石油和天然气的开采与加工 |
| 采标情况： | ISO 7404/3-94 NEQ |
| 发布部门： | 国家石油和化学工业局 |
| 发布日期： | 1999-05-17 |
| 实施日期： | 1999-12-01 |
| 提出单位： | 中国石油天然气集团公司 |
| 归口单位： | 石油地质勘探专业标准化委员会 |
| 主管部门： | 国家石油和化学工业局 |
| 起草单位： | 胜利石油管理局地质科学研究院、石油大学（北京）地球科学系 |
| 起草人： | 李佩珍、钟宁宁 |
| 批文号： | 3133-1999 |
| 页数： | 7页 |
| 出版社： | 石油工业出版社 |
| 出版日期： | 1999-12-01 |
| 标准前页： |
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