标准编号：JB/T 8268-1999，标准状态：现行。
| 英文名称： | Standard test method for surface defect of photoconductor for electrostatic process |
| 替代情况： | JB 8268-1995(原标准号GB 10996-89) |
| 中标分类： | 仪器、仪表>>电影、照相、缩微、复印设备>>N47缩微复印机械 |
| 发布部门： | 国家机械工业局 |
| 发布日期： | 1999-08-06 |
| 实施日期： | 2000-01-01 |
| 归口单位： | 全国复印机械标委会 |
| 页数： | 5页 |
| 出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版日期： | 2000-01-01 |
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