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JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性 测量方法 机械行业标准(JB
2012-07-02   发表:

标准编号:JB/T 9495.7-1999,标准状态:现行。 本标准适用于直径不大于2000.的光学晶体光学均匀性的mit ,侧盆折射率微差的精度为:△7=±1×10-⒍

英文名称: Measuring method for optical homogeneity of optical crystal
替代情况: 原标准号ZB N05001.7-1986
中标分类: 仪器、仪表>>仪器、仪表综合>>N05仪器、仪表用材料和元件
ICS分类: 计量学和测量、物理现象>>17.180 光学和光学测量

31.030

发布部门: 仪表功能材料标委会
发布日期: 1999-08-06
实施日期: 2000-01-01
提出单位: 仪表功能材料标准化技术委员会
归口单位: 仪表功能材料标准化技术委员会
起草单位: 北京玻璃研究所
起草人: 杨学志
批文号: 国机管[1999]419
页数: 6 页
出版社: 机械工业出版社
出版日期: 2005-06-18
标准前页:

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