标准编号：JB/T 9495.2-1999，标准状态：现行。 本标准适用于利用V梭镜方法测I光学晶体的折射率。测量谱线为d,D,C,F,r,e,g,h八种谱线，测盆情度:Δn＝±3×10－5.
| 英文名称： | Measuring method for refractive index of optical crystals |
| 替代情况： | 原标准号ZB N05001.2-1986 |
| 中标分类： | 仪器、仪表>>仪器、仪表综合>>N05仪器、仪表用材料和元件 |
| ICS分类： | 计量学和测量、物理现象>>17.180 光学和光学测量
31.030 |
| 发布部门： | 仪表功能材料标委会 |
| 发布日期： | 1999-08-06 |
| 实施日期： | 2000-01-01 |
| 提出单位： | 仪表功能材料标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 仪表功能材料标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 北京玻璃研究所 |
| 起草人： | 王维民 |
| 批文号： | 国机管[1999]419 |
| 页数： | 5页 |
| 出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版日期： | 2000-01-01 |
| 标准前页： |
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