标准编号：JB/T 8233-1999，标准状态：现行。 本标准规定了立式接触式干涉仪的基本参数及尺寸、技术要求、试验方法等。
本标准适用于比较法测量长度的立式接触式干涉仪。
| 英文名称： | Vertical contact interferometers |
| 替代情况： | JB/T 8233-1995 |
| 中标分类： | 仪器、仪表>>光学仪器>>N34光学计量仪器 |
| ICS分类： | 计量学和测量、物理现象>>光学和光学测量>>17.180.30光学测量仪器 |
| 发布部门： | 国家机械工业局 |
| 发布日期： | 1999-08-06 |
| 实施日期： | 2000-01-01 |
| 提出单位： | 全国光学和光学仪器标委会 |
| 归口单位： | 全国光学和光学仪器标委会 |
| 起草单位： | 上海光学仪器研究所、贵阳光电技术研究所 |
| 页数： | 10页 |
| 出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版日期： | 2000-01-01 |
| 标准前页： |
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