标准编号：SJ 20844-2002，标准状态：现行。 本标准规定了半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性测量方法。本标准适用于半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性的测试。
| 英文名称： | Test method for microzone homogeneity of semi-insulating monocrystal gallium arsenide |
| 中标分类： | >>>>H8
电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料 |
| 发布日期： | 2002-10-30 |
| 实施日期： | 2003-03-01 |
| 起草单位： | 中国电子科技集团公司第四十六所 |
| 页数： | 13页 |
| 出版社： | 工业电子出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-19 |
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