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SJ 20954-2006 集成电路锁定试验 电子行业标准(SJ)
2012-06-10   发表:

标准编号:SJ 20954-2006,标准状态:现行。 本标准规定了集成电路的电流锁定和过压锁定的试验方法。

英文名称: Integrated circuits latch-up test
中标分类: 电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
ICS分类: 电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布日期: 2006-08-07
实施日期: 2006-12-30
页数: 15页

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