标准编号：GB/T 20726-2006，标准状态：现行。 本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪特性最重要的量值。
| 英文名称： | Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors |
| 中标分类： | 仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： | 化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方 |
| 采标情况： | 等同ISO 15632-2002 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2006-12-25 |
| 实施日期： | 2007-08-01 |
| 首发日期： | 2006-12-25 |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
| 起草人： | 曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光、范光 |
| 计划单号： | 20030762-T-469 |
| 页数： | 平装16开 页数：11, 字数：14千字 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2007-08-01 |
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