标准编号：YD/T 1690.6-2007，标准状态：现行。 本部分规定了用微型磁场探头以非接触的电流测量方式来测量集成电路（IC）的管脚的射频电流的方法。本方法可以在150kHz～1GHz频率范围内测量由IC产生的射频电流。本部分适用于单个IC的测量或者用于标准测试板上的IC芯片组的描述和比较。
| 英文名称： | Interior of Telecommunication Equipment-Measurement of Electromagnetic Emissions-150kHz to 1GHz Part 6:Measurement of Conducted Emissions-Magnetic Probe Method |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L06电磁兼容 |
| ICS分类： | 电信、音频和视频技术>>电磁兼容性(EMC)>>33.100.10发射 |
| 采标情况： | 修改IEC 61967-6-2002 |
| 发布日期： | 2007-09-29 |
| 实施日期： | 2008-01-01 |
| 页数： | 18 |
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