标准编号：JB/T 10875-2008，标准状态：现行。 本标准规定了在额定电流工作条件下的半导体发光二极管（以下简称LED器件）光学性能测试方法。本标准适用于单色可见光、白光LED器件光学性能测试，组件和效率器件的光学性能测试参照执行.
本标准是一种推荐性的测试方法，只要达到同样的测量目的，也可采用其他的测试方法。
| 英文名称： | Measuring methods for optical proerties of LEDs |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L53半导体发光器件 |
| ICS分类： | 电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家发展和改革委员会 |
| 发布日期： | 2008-06-04 |
| 实施日期： | 2008-11-01 |
| 提出单位： | 中国机械工业联合会 |
| 归口单位： | 全国光学和光电子学标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 上海理工大学;上海半导体照明工程技术研究中心;浙江大学等 |
| 起草人： | 庄松林、杨卫桥、叶关荣、鲍超、章慧贤、冯琼辉、王蔚生、毛滋春 |
| 页数： | 13页 |
| 出版社： | 中国机械工业出版社 |
| 出版日期： | 2008-11-01 |
| 标准前页： |
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