标准编号：GB/T 1774-2009，标准状态：现行。 本标准规定了超细银粉的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存和订货单（或合同）内容等。

本标准适用于电子工业用超细银粉。

本标准代替ＧＢ／Ｔ１７７４—１９９５《超细银粉》。

本标准与ＧＢ／Ｔ１７７４—１９９５相比，主要有如下变化：

———将原标准中的产品牌号修订为ＰＡｇ?Ｇ０．２、ＰＡｇ?Ｇ２．０、ＰＡｇ?Ｇ７．０。

———增加了粒径特征参数犇１０、犇５０、犇９０。

———采用ＧＢ／Ｔ１９０７７．１ 《粒度分析　激光衍射法》对超细银粉的粒度进行测量，并标明粒径特征参数。

———根据电子产品无铅、无镉化的国际趋势，增加有害杂质元素Ｃｄ的最高允许量为０．００１％。

———增加了烧损率、比表面积、微粒尺寸分布等要求。

本标准的附录Ａ 为规范性附录。

本标准由中国有色金属工业协会提出。

本标准由全国有色金属标准化技术委员会归口。

本标准负责起草单位：贵研铂业股份有限公司。

本标准参加起草单位：中国有色金属工业标准计量质量研究所。

本标准起草人：赵玲、刘继松、黄富春、陈伏生、马晓峰、向磊。

本标准所代替标准的历次版本发布情况为：

———ＧＢ１７７４—１９８８、ＧＢ／Ｔ１７７４—１９９５。ＧＢ／Ｔ１７７３—２００８　片状银粉

ＧＢ／Ｔ５０６０　金属粉末松装密度的测定　第二部分：斯柯特容量计法

ＧＢ／Ｔ５１６２　金属粉末　振实密度的测定

ＧＢ／Ｔ１５５５５．２　固体废物　铜、锌、铅、镉的测定　原子吸收分光光度法

ＧＢ／Ｔ１８０３５　贵金属及其合金牌号表示方法

ＧＢ／Ｔ１９０７７．１　粒度分析　激光衍射法

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