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GB/T 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定
2012-05-16   发表:

标准编号:GB/T 24468-2009,标准状态:现行。

英文名称: Specification for definition and measurement of semiconductor equipment reliability availability and maintainability(RAM)
中标分类: 电子元器件与信息技术>>电子测量与仪器>>L85电子测量与仪器综合
ICS分类: 计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.30测量仪器仪表
采标情况: SEMI E10-0304:2004 MOD
发布部门: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期: 2009-10-15
实施日期: 2009-12-01
首发日期: 2009-10-15
归口单位: 469-203 全国半导体材料和设备标准化技术委员会
主管部门: 国家标准化管理委员会
起草单位: 中国电子技术标准化研究所
计划单号: 20068064-T-469
页数: 36页
出版社: 中国标准出版社
出版日期: 2009-12-01

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