标准编号：JJF 1236-2010，标准状态：现行。 本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪的校准。
| 英文名称： | Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers |
| 发布部门： | 国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2010-01-05 |
| 实施日期： | 2010-04-05 |
| 归口单位： | 全国无线电计量技术委员会 |
| 主管部门： | 全国无线电计量技术委员会 |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所、北京无线电仪器厂、上海新建电子仪器有限公司 |
| 起草人： | 陈连启、于利红、刘冲等 |
| 页数： | 26页 |
| 出版社： | 中国计量出版社 |
| 书号： | 155026-2482 |
| 出版日期： | 2010-04-05 |
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