| 本标准规定了对波片相位延迟测量装置进行校准的术语和定义、测量原理、校准方法和校准。 本标准适用于对各种原理的波片相位延迟测量装置的精度进行校准。 |
| 英文名称： | Calibration method for measurement equipment of wave plate phase retardation |
| 中标分类： | 仪器、仪表>>光学仪器>>N30光学仪器综合 |
| ICS分类： | 成像技术>>37.020光学设备 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2011-07-29 |
| 实施日期： | 2011-12-01 |
| 提出单位： | 中国机械工业联合会 |
| 归口单位： | 全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103) |
| 主管部门： | 全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103) |
| 起草单位： | 清华大学 |
| 起草人： | 张书练、刘维新、丁铭 |
| 页数： | 16页 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2011-12-01 |
| 前言 |
| 本标准的附录A 为资料性附录。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口。 本标准主要起草单位:清华大学。 本标准主要起草人:张书练、刘维新、丁铭。 |
| 目录 |
| 前言 Ⅲ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 测量原理 2 5 校准方法 3 5.1 概述 3 5.2 校准装置 3 6 校准 3 6.1 绝对校准法 3 6.2 比较校准法 4 6.3 校准结果形式 5 附录A (资料性附录) 校准装置的说明 6 A.1 基于激光频率分裂原理的波片相位延迟基准测量装置 6 A.2 标准波片 8 A.3 晶体石英最大双折射率Δnλ计算用表(Δnλ=ne-no为24.8℃下由分析式得到的计算值) 8 |
| 引用标准 |
| 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准。然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB/T13962 光学仪器术语 GB/T15313 激光术语 |
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