本标准规定了闪光灯激励红外热像法无损检测的一般原则,适用于材料和结构的表面及近表面缺陷检测。 |
英文名称: | Non-destructive testing—Infrared flash thermography—Guideline |
中标分类: | 机械>>机械综合>>J04基础标准与通用方法 |
ICS分类: | 试验>>19.100无损检测 |
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: | 2011-06-16 |
实施日期: | 2012-03-01 |
归口单位: | 全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56) |
主管部门: | 全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56) |
起草单位: | 北京维泰凯信新技术有限公司、首都师范大学、中国航空工业集团公司北京航空材料研究院、北京理工大学、航天材料及工艺研究所、北京航空航天大学、上海泰司检测科技有限公司、上海材料研究所 |
起草人: | 陶宁、王迅、郭广平、李艳红、朱军辉、曾智、金万平、张存林、伍耐明、刘颖韬、金宇飞 |
页数: | 20页 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2012-03-01 |
前言 |
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)归口。 本标准起草单位:北京维泰凯信新技术有限公司、首都师范大学、中国航空工业集团公司北京航空材料研究院、北京理工大学、航天材料及工艺研究所、北京航空航天大学、上海泰司检测科技有限公司、上海材料研究所。 本标准主要起草人:陶宁、王迅、郭广平、李艳红、朱军辉、曾智、金万平、张存林、伍耐明、刘颖韬、金宇飞。 |
目录 |
前言 Ⅰ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 方法概要 1 5 检测系统 2 6 试件 3 7 检测工艺规程 4 8 数据处理和缺陷分析 6 9 安全性 10 附录A (资料性附录) 缺陷的热图分析示例 11 附录B(资料性附录) 微分热图的应用示例 12 附录C (资料性附录) 缺陷的曲线分析示例 13 |
引用标准 |
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T5616 无损检测 应用导则 GB/T12604.9 无损检测 术语 红外检测 GB/T20737 无损检测 通用术语和定义(ISO/TS18173) |
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